振動試驗臺用途
適用于電子元器件、組件、機電產(chǎn)品、儀器儀表、電子玩具、及食品包裝，等行業(yè)實驗室及生產(chǎn)線上對樣品進行低頻振動試驗。如品質(zhì)鑒定試驗，可靠性鑒定試驗，耐久試驗，疲勞試驗，振動防治改善等。模擬產(chǎn)品在制造、組裝、運輸及使用過程中所遭受的振動環(huán)境，以評定其結(jié)構(gòu)的耐振性、可靠性和完好性。
振動試驗臺技術(shù)參數(shù)：1．大試驗負載(Kg)：602．設(shè)時范圍：0.01S-99.99H3．手動調(diào)頻范圍(Hz)：1~2004．工作臺面尺寸(mm)：550×550×465．自動掃頻范圍(Hz)：1~2006．工作臺體尺寸(mm)：550×550×3507．空載位移幅值(mm)：0~58．控制箱尺寸(mm)：450×330×7509．振動方向：垂直10．電源電壓(V/Hz)：220/50±2%11．振動波形：正弦波12．消耗功率(KVA)：1.713．測試模式：調(diào)頻/自動掃頻（線性振動）14．標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.10

振動試驗臺的5大主要功能
1、振動試驗臺的定頻功能：我們可以在頻率范圍以內(nèi)任意設(shè)定單組試驗頻率;
2、設(shè)備的掃頻功能：能頻率范圍以內(nèi)任意設(shè)定上限頻率、下限頻率以及周期的時間,然后進行循環(huán)掃頻試驗;
3、振動試驗臺的倍頻功能：在頻率范圍以內(nèi)從低頻到高頻或從高頻到低頻,頻率可以自動成倍的來進行循環(huán)試驗;
4、設(shè)備的對數(shù)功能：在頻率范圍以內(nèi)從低頻到高頻或從高頻到低頻,頻率可以自動成對數(shù)的形式來進行循環(huán)試驗;
5、振動試驗臺的可程式功能：能在頻率范圍以內(nèi)將不同的固定頻率及時間分段編程試驗一共有15段。

振動試驗臺產(chǎn)品特點：
1．精密型設(shè)計制造、體積小、超靜音工作
2．機臺底座采用重型鋼材配減振膠墊，安裝方便，運行平穩(wěn)，無需安裝地腳螺絲
3．進口頻率控制器，數(shù)字化控制與顯示頻率，PID調(diào)節(jié)功能，使設(shè)備工作更為穩(wěn)定、可靠
4．控制參數(shù)實時同步顯示，無須人工干預(yù)。（各種控制條件，可于運轉(zhuǎn)中監(jiān)視之）
5．內(nèi)嵌式振幅預(yù)測程序及調(diào)幅容易
6．四點同步激振，臺面振動均勻
7．無級調(diào)整振幅，定頻及掃頻操作功能適應(yīng)不同行業(yè)多種試驗要求
8．增加抗干擾電路,解決因強電磁場對控制電路干擾
9．外觀美觀，操作便捷，人性化控制

振動試驗臺產(chǎn)品功能：  
1.調(diào)頻功能：在頻率范圍內(nèi)任意設(shè)定頻率。  
2.掃頻功能：（上限頻率/下限頻率/時間范圍）可任意設(shè)定。  
3.可程式功能：任意調(diào)整1~15段每段可任意設(shè)定（頻率/時間）可循環(huán)。  
4.對數(shù)功能：①下頻到上頻②上頻到下頻③下頻到上頻再到下頻--3種模式對數(shù)/可循環(huán)。  
5.倍頻功能：任意調(diào)整1~15段成倍數(shù)增加，①低頻到高頻②高頻到低頻③低頻到高頻再到低頻/可循環(huán)。  
6.顯示振幅加速度：如需看出振幅、加速度、大加速度、準(zhǔn)確數(shù)值需另購測量儀（另購）。  
7.全功能電腦控制：485通訊接口如要連接電腦做控制、儲存、記錄、打印之功能需另購介面卡程式電腦（另購）。  注：定頻50HZ的無調(diào)頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)功能。
振動試驗臺使用方法
1、將機臺置于平整之地面，防振膠墊應(yīng)落實而不會出現(xiàn)前后、左右晃動，將機臺電源接牢。機器電機為兩 相電機，請與供電電源接牢；
2、打開機器電源開關(guān)，將試驗所需時間設(shè)定好：HMS依次為H小時、M分鐘、S秒；表盤上‘+、—’，依序 將數(shù)字1-9拔到所需檔；
3、調(diào)動高速旋扭相應(yīng)轉(zhuǎn)速在顯示表上顯示，目視機臺運行轉(zhuǎn)正常，將轉(zhuǎn)速調(diào)低，關(guān)掉電源；
4、將試件置于工作臺面，移動活動圍欄將試件固定于臺面位；
5、打開機臺電源，重啟機臺，調(diào)整相應(yīng)轉(zhuǎn)速，待試驗時間到達設(shè)定時間后，停機檢驗試件；
6、如需按ISTA-IA國際運輸標(biāo)準(zhǔn)做測試，則需用隨機附帶之標(biāo)配塊置于試件（被測包裝件）下部，當(dāng)機臺運行速度達到300rpm時，用手將標(biāo)準(zhǔn)塊從試件一側(cè)順利地推過試件底部；
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