高壓加速老化試驗箱是一款可實現(xiàn)高溫、高壓、高濕等實驗條件的加速老化箱，屬特種壓力設(shè)備，大大加快了客戶對產(chǎn)品老化情況的了解，主要零部件國外進(jìn)口保修一年。
技術(shù)性能指標(biāo)：
1、溫度范圍：＋110℃～＋132℃。
2、溫度波動度：±0、5℃。
3、溫度均勻度：±1、5℃。
4、濕度范圍：R、H飽和蒸氣。
5、濕度波動度：±1、5%R、H。
6、濕度均勻度：±3、0%R、H。
7、壓力范圍：
相對壓力：+0～2kg/cm2。（注：可生產(chǎn)壓力范圍：+0～3kg/cm2）。
Jue對壓力：1、0kg/cm2～3、0kg/cm2。
安全壓力容量：4kg/cm2＝1個環(huán)境大氣壓＋3kg/cm2。
8、循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán)。
9、測時間設(shè)置：0～999Hr。
10、加壓時間：0、00kg/cm2～2、00kg/cm2約30分鐘。
12、升溫時間：由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。
13、溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。
14、試驗內(nèi)箱體積供選擇：
注：
1、在無試驗負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。
2、關(guān)于溫度上升及下降時間是指風(fēng)冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。
3、溫濕度傳感器設(shè)置于空調(diào)箱出風(fēng)口處。
4、溫濕度均勻度定義為：實驗室?guī)缀沃行狞c處，溫濕度時的所測之資料。
5、以上數(shù)據(jù)性能，測量，計算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。

試驗箱特點：
1、內(nèi)外箱均采用304不銹鋼板，圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗中結(jié)露滴水設(shè)計。
2、圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
3、設(shè)計可靠，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
4、自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計，箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護(hù)。
5、型packing，箱內(nèi)壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
6、實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。
7、臨界點LIMIT方式自動安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。

試驗箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（內(nèi)平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護(hù)地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz
保護(hù)地線接地電阻小于4Ω

試驗箱結(jié)構(gòu): 
1.圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可予防試驗中結(jié)露滴水現(xiàn)象.  
2.精密設(shè)計,氣密性良好,耗水量少,每次手動加水可連續(xù)運轉(zhuǎn)1H;自動加水可連續(xù)運轉(zhuǎn)999H;  
3.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力安全檢知、門禁自動鎖定控制系統(tǒng),采用安全門把設(shè)計,內(nèi)箱有大于正常壓力時測試門會被反壓保護(hù)而打不開.保護(hù)操作人員安全。  
4.型packing,內(nèi)箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式完全不同,可延長packing壽命.  
5.實驗開始前之真空動作可將原來內(nèi)箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing  ＜1micom.以確保箱內(nèi)之純凈度.  
6.保修期：機(jī)器全系統(tǒng)保固壹年(天災(zāi)或人為因素造成損壞不在此限),終身維護(hù).  
7.交貨期限:簽訂合同定金確定后3（現(xiàn)貨）個工作日.需方工廠交貨,我司提供免費包裝、運輸人員培訓(xùn)、安裝、調(diào)試等費用.
高壓加速老化試驗箱目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。
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